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珍珠珠層厚度無損檢測有重大突破
日期：2024-09-20 14:46
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摘要：
從廣西質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局獲悉，該局承擔(dān)的“X射線和近紅外光珍珠珠層厚度無損檢測儀研究與應(yīng)用”科技成果項目鑒定驗(yàn)收會在廣西產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院召開。此次項目驗(yàn)收鑒定會由廣西科技廳組織，**有關(guān)方面的權(quán)威專家對項目進(jìn)行了審定。
據(jù)了解，該課題技術(shù)在珍珠檢測領(lǐng)域具有較高的**性。一是國內(nèi)**微焦斑（Φ＝8μm）X射線透射技術(shù)和CCD光電成像技術(shù)相結(jié)合，實(shí)時整體成像；二是珠層圖像自動甄別采集，根據(jù)灰度級差原理，自動由外向內(nèi)搜索（圖像由白到黑）之**梯度處視為珍珠核與珍珠層邊緣。三是用測量誤差理論*小二乘法圓度擬合，自動獲取*接近珠核與珠層平均圓，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確和快速自動檢測；四是用計算機(jī)技術(shù)實(shí)現(xiàn)尺寸自動匹配，以消除點(diǎn)光源引起不同尺寸珍珠的投影與其真正直徑測量偏差的問題；五是研究出儀器的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，建立量傳溯源體系，確保測量準(zhǔn)確度；六是實(shí)現(xiàn)珍珠球體多截面測量；七是控制測量誤差，實(shí)現(xiàn)儀器測量準(zhǔn)確度≤0.02mm。
通過聽取匯報、質(zhì)疑和討論，專家形成了鑒定意見，參會專家一致認(rèn)為，該課題在**率先開展采用X射線和近紅外光學(xué)相干層析成像技術(shù)對珍珠進(jìn)行無損檢測綜合對比研究，并取得突破性進(jìn)展，成功研制出兩種珍珠無損檢測高精度新儀器，把先進(jìn)的測量理論成功轉(zhuǎn)化為具有廣泛應(yīng)用意義的技術(shù)**成果和測量儀器，屬于國內(nèi)**，技術(shù)水平達(dá)到國內(nèi)**，******。
目前該項目所研究的兩種無損檢測方法已被納入國家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)在**推廣應(yīng)用。對提高珍珠產(chǎn)品質(zhì)量，促進(jìn)廣西珍珠產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將具有深遠(yuǎn)的社會效益和經(jīng)濟(jì)效益。
據(jù)了解，該課題技術(shù)在珍珠檢測領(lǐng)域具有較高的**性。一是國內(nèi)**微焦斑（Φ＝8μm）X射線透射技術(shù)和CCD光電成像技術(shù)相結(jié)合，實(shí)時整體成像；二是珠層圖像自動甄別采集，根據(jù)灰度級差原理，自動由外向內(nèi)搜索（圖像由白到黑）之**梯度處視為珍珠核與珍珠層邊緣。三是用測量誤差理論*小二乘法圓度擬合，自動獲取*接近珠核與珠層平均圓，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確和快速自動檢測；四是用計算機(jī)技術(shù)實(shí)現(xiàn)尺寸自動匹配，以消除點(diǎn)光源引起不同尺寸珍珠的投影與其真正直徑測量偏差的問題；五是研究出儀器的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，建立量傳溯源體系，確保測量準(zhǔn)確度；六是實(shí)現(xiàn)珍珠球體多截面測量；七是控制測量誤差，實(shí)現(xiàn)儀器測量準(zhǔn)確度≤0.02mm。
通過聽取匯報、質(zhì)疑和討論，專家形成了鑒定意見，參會專家一致認(rèn)為，該課題在**率先開展采用X射線和近紅外光學(xué)相干層析成像技術(shù)對珍珠進(jìn)行無損檢測綜合對比研究，并取得突破性進(jìn)展，成功研制出兩種珍珠無損檢測高精度新儀器，把先進(jìn)的測量理論成功轉(zhuǎn)化為具有廣泛應(yīng)用意義的技術(shù)**成果和測量儀器，屬于國內(nèi)**，技術(shù)水平達(dá)到國內(nèi)**，******。
目前該項目所研究的兩種無損檢測方法已被納入國家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)在**推廣應(yīng)用。對提高珍珠產(chǎn)品質(zhì)量，促進(jìn)廣西珍珠產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將具有深遠(yuǎn)的社會效益和經(jīng)濟(jì)效益。
