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集顯微鏡?SEM?粗糙度儀的功能于一身——形狀測量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200 系列
日期：2024-09-22 00:45
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摘要：
3月27日，工業(yè)自動化領(lǐng)域，銷售傳感器、測量儀器、顯微系統(tǒng)以及邏輯控制系統(tǒng)的供應(yīng)商，日本知名企業(yè)基恩士在北京召開了媒體見面會。會上指出將加強在中國市場「形狀測量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現(xiàn)****的高分辨率大范圍形狀測量。
「形狀測量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的特點如下；
高分辨率，大景深觀察
(1) 高分辨率， **放大24000 倍
(2) 完全聚焦的清晰圖像
(3) 符合溯源性要求
仿佛彩色 SEM
(1) 16 bit 激光彩色觀察
(2) 放置并且測量，您可以在幾秒鐘內(nèi)進行分析
(3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量?？刹鹦稖y量頭單元可以與其他設(shè)備整合并支持遠(yuǎn)程操作。
無損輪廓和粗糙度測量
(1) 非接觸式設(shè)計，可用于測量軟質(zhì)的工件
(2) 方便定位測量區(qū)域
(3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小
