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涂層膜厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)
日期：2024-09-24 16:24
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摘要：
涂層膜厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)
a)基體金屬特性 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
b)基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，進(jìn)行校準(zhǔn)后，可以測(cè)量。
c)邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d)曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e)讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此L170 涂層測(cè)厚儀 必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f)表面清潔度：測(cè)量前，應(yīng)**表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
g)磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作
h)測(cè)頭取向：測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量時(shí)應(yīng)該與工件保持垂直
