涂層測厚儀使用問題

（一）涂層測厚儀使用問題之注意事項細則

1、豪嶺 涂層測厚儀 主要測量什么材料的涂層？

    答：豪嶺 涂層測厚儀 可以測量磁性金屬基材上的非磁性涂層的厚度，非磁性金屬基材上非導電層的厚度。

2、豪嶺 涂層測厚儀 可以測非金屬材料上的涂層嗎？

    答：目前豪嶺產(chǎn)的 涂層測厚儀 還不能夠測量非金屬材料上的涂層厚度，只能測量鐵基上非磁性材料的涂層，非鐵基金屬材料上絕緣層的厚度。

    另：對于非金屬基體材料的涂層測量目前可選擇電解、X射線、超聲涂層等方面的儀器，但是各種方式都有利弊，電解會破壞材料，X射線測厚儀造價比較高，超聲 涂層測厚儀 準確度及穩(wěn)定性不是很好，目前有很多用戶使用豪嶺測厚儀通過間接方法進行測量，例如：噴涂過程中將金屬材料與非金屬材料同時噴涂，然后測量同一工藝下的金屬涂層厚度，間接得出非金屬材料噴涂的厚度。

3、豪嶺涂層測厚儀可以測高溫材料的涂層嗎？

    答：豪嶺測厚儀不能測量高溫材料，原則上只能測60度以下的材料。

4、豪嶺 涂層測厚儀 可以測量鍍鎳層的厚度嗎？

    答：不能！因為鎳既導磁有導電，所以不能測量鍍鎳層的厚度。

5、我廠的涂層為防火材料，厚度在 5-8個毫米，能否使用貴廠的產(chǎn)品進行測量。

    答：選配TT260配以F10探頭，可測量0－10mm的涂層厚度。

6、鋼管的內(nèi)外壁都鍍有鍍層，能否測量？

    答：對于滿足測量材料要求的管道內(nèi)壁的電鍍層豪嶺有專門的F1/90探頭，*小半徑要求：

R＞7mm即可。

7、鍍層在5個微米左右可以測量嗎？用哪款儀器更合適？

    答：選配豪嶺F400型探頭可以穩(wěn)定的測量5um的厚度

8、銅上鍍鉻能測嗎 ？

    答：豪嶺渦流測厚儀可以測量銅上鍍鉻的工件，但是鉻層必須小于40um。

9、可以測量薄膜、紙張的厚度嗎？

    答：對于滿足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應用客戶很多。

10、豪嶺測厚儀可以測量螺桿上螺紋涂層的厚度嗎？

    答：直徑比較小的螺桿上面螺紋涂層的厚度目前豪嶺儀器不能測量。

11、什么情況下選擇配通訊軟件，豪嶺通訊軟件有哪些功能？

    答：目前豪嶺 涂層測厚儀 中TT260可以選配通訊軟件，新版軟件在原軟件基礎上進行了升級，功能強大實用性強，包括聯(lián)機下載、數(shù)據(jù)存儲、測量分析、技術支持等，輸出方式有WORD文檔、EXCEL表格、TXT文本、HTML網(wǎng)頁，可與計算機實現(xiàn)實時傳輸、實時打印。當用戶需要對測量數(shù)據(jù)進行系統(tǒng)分析建立數(shù)據(jù)庫時建議選用豪嶺TT260通訊軟件。

12、CN02探頭是用來測什么材料的？

    答：CN02探頭是專門用來測量線路版上銅箔厚度的，量程為0－200um

（二）涂層測厚儀使用問題之影響值的因素

1．影響因素的有關說明
a) 基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

b) 基體金屬電性質(zhì)
    基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

c) 基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d) 邊緣效應
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉角處進行測量是不可靠的。

e) 曲率
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形
    測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g) 表面 粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的 粗糙度 相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

g) 磁場
    周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

h) 附著物質(zhì)
    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須**附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i) 測頭壓力
    測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j) 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

2．使用儀器時應當遵守的規(guī)定

a) 基體金屬特性
    對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面 粗糙度 ，應當與試件基體金屬的磁性和表面 粗糙度 相似。
    對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。

c) 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉角等處進行測量。

d) 曲率
    不應在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數(shù)次數(shù)
    通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。

f) 表面清潔度
    測量前，應**表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。